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题名:
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Advanced field-solver techniques for RC extraction of integrated circuits / Wenjian Yu, Xiren Wang , |
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ISBN:
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978-7-302-35151-1 价格： CNY59.00 |
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语种:
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eng |
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载体形态:
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xiii, 246页 图 25cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 清华大学出版社 出版日期： 2014 |
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内容提要:
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电阻、电容（ＲＣ）提取是设计纳米制造工艺集成电路的重要步骤，通过它对集成电路中的互连线或衬底耦合效应进行电学建模，为进一步的电路性能验证、制造良率分析提供基础。用于ＲＣ提取的场求解器方法直接对电场进行求解，因此具有最高的准确度。为了满足集成电路设计中准确建模与仿真的要求，场求解器ＲＣ提取方法正变得越来越重要。本书对刻画超大规模集成电路互连线和混合信号集成电路衬底耦合效应的关键场求解器提取方法进行了全面、系统的介绍。通过来自实际电路设计的例子，对各种场求解器算法进行了详细阐述，并说明它们各自的优点和缺点。 |
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主题词:
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集成电路 电阻 |
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主题词:
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集成电路 电容 |
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中图分类法:
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TN4 版次： 5 |
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主要责任者:
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喻文健 著 |
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主要责任者:
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王习仁 著 |
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责任者附注:
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责任者规范汉译名: 喻文健 ; 责任者规范汉译名: 王习仁 |