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题名:
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现代电子系统软错误 / (法)Michael Nicolaidis主编 , 韩郑生, 毕津顺译 |
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ISBN:
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978-7-121-29097-8 价格： CNY59.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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16,240页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2016 |
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内容提要:
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本书系统阐述了软错误发生的复杂物理过程,全书共分为10章。主要介绍了软错误研究历史和未来发展趋势;单粒子效应发生机制与分类;JEDEC标准;门级建模与仿真;电路级和系统级单粒子效应建模与仿真;硬件故障注入;采用加速测试与错误率预估技术,评估验证面向空间或地面环境的集成电路;电路级软错误抑制技术;软件级软错误抑制技术;高可靠电子系统软错误性能的技术指标与验证方法。 |
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主题词:
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电子系统 研究 |
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中图分类法:
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TN103 版次： 5 |
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主要责任者:
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尼古拉季斯 主编 |
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次要责任者:
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韩郑生 译 |
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次要责任者:
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毕津顺 译 |